การอบรมเชิงปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
รหัสหลักสูตร: 24924
สัมมนานี้ผ่านไปเรียบร้อยแล้ว
(ถ้ามีจัด ท่านจะได้สิทธิ์ก่อน)
เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscopy : TEM) เป็นอีกเทคนิคหนึ่งที่มีความสำคัญในยุคของนาโนเทคโนโลยี ซึ่งสามารถทำให้เราเห็นรายละเอียดของวัสดุในระดับนาโนเมตร เพื่อนำมาวิเคราะห์และพัฒนาวัสดุต่างๆ ให้มีคุณสมบัติตามที่ต้องการ ดังนั้นห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ของศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ จึงมีความประสงค์ให้มีการอบรม ทั้งภาคทฤษฎีและภาคปฏิบัติ เพื่อเป็นการเผยแพร่และแลกเปลี่ยนความรู้ทางด้านจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านให้แก่ ภาคการวิจัยของรัฐและภาคอุตสาหกรรม รวมทั้งผู้ที่มีความสนใจ เพื่อก่อให้เกิดการพัฒนาและก้าวหน้าของวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีของประเทศไทย
วันที่ 8 มิถุนายน 2558
08:30 - 09:00 ลงทะเบียน
09:00 - 10:30 ส่วนประกอบของเครื่อง (1.30 ชม.)
10:30 - 10:45 พักรับประทานอาหารว่าง
10:45 - 12:00 การเตรียมชิ้นงาน & การประยุกต์ใช้งานเบื้องต้น (1.15 ชม.)
12:00 - 13:00 พักรับประทานอาหารกลางวัน
13:00 - 14:30 การสร้างภาพใน TEM (1.30 ชม.)
14:30 - 14:45 พักรับประทานอาหารว่าง
14:45 - 16:30 รูปแบบการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน และ High-resolution TEM (1.30 ชม.)
วันที่ 9 มิถุนายน 2558
09:00 -16:30 การอบรมภาคปฏิบัติ
วันที่ 10 มิถุนายน 2558
9:00 -16:30 การอบรมภาคปฏิบัติ

